1、低温试验:
低温测试标准:电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温GB/T 2423.1-2008,IEC 60068-2-1:2007。只做:温度≥-70℃。
2、高温试验:
高温测试标准:电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温GB/T 2423.2-2008,IEC 60068-2-2:2007。只做:温度≤300℃。
3、恒定湿热试验:
湿热试验标准:电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T 2423.50-2012,IEC 60068-2-67:1995。只做:温度(10~95)℃,湿度:(20~98)%RH
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验GB/T 2423.3-2006,IEC 60068-2-78:2001只做:温度(10~95)℃,湿度:(20~98)%RH。
4、交变湿热试验:
电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Db:交变湿热(12h+12h循环)GB/T2423.4-2008,IEC 60068-2-30:2005。只做:温度(10~95)℃,湿度:(20~98)%RH。
5、振动试验:
振动试验标准:电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fi:振动混合模式GB/T 2423.58-2008,IEC 60068-2-80:2005。只做:频率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则GB/T 2423.56-2006,IEC 60068-2-64:1993。只做:频率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg。
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动(正弦)GB/T 2423.10-2008,IEC 60068-2-6:1995。只做:频率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg。
6、温度变化试验:
环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009。
7、温度/湿度组合循环试验:
环境试验第2部分:试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验GB/T 2423.34-2012,IEC 60068-2-38:2009。
8、跌落试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落GB/T 2423.8-1995,IEC 60068-2-32:1990。
9、机械冲击试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T 2423.5-1995,IEC 60068-2-27:1987。
10、碰撞试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eb和导则:碰撞GB/T 2423.6-1995,IEC 60068-2-29:1987
11、倾跌与翻倒:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T 2423.7-1995,IEC 60068-2-31:1982。
12、砂尘试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验L:沙尘试验GB/T 2423.37-2006,IEC 60068-2-68:1994只做:方法La2:恒定气压。
13、盐雾试验:
环境试验第2部分:试验方法试验Kb:盐雾,交变(氯化钠溶液)GB/T 2423.18-2012,IEC 60068-2-52:1996;
人造气氛腐蚀试验盐雾试验GB/T 10125-2012,ISO 9227:2006;
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ka:盐雾GB/T 2423.17-2008,IEC 60068-2-11:1981。
14、温度冲击试验:
环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化GB/T 2423.22-2012,IEC 60068-2-14:2009。
15、IP防护等级(外壳防护试验):
外壳防护等级(IP代码):GB 4208-2008,IEC 60529:2001;
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验R:水试验方法和导则:GB/T 2423.38-2008,IEC 60068-2-18:2000。
16、低温/振动(正弦)综合试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验GB/T 2423.35-2005,IEC 60068-2-50:1983。
17、高温/振动(正弦)综合试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验GB/T 2423.36-2005,IEC 60068-2-51:1983。
18、温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合GB/T 2423.59-2008。
19、温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验:
电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合GB/T 2423.102-2008。
20、可靠性试验:
设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案:GB/T 5080.7-1986,IEC 60605-7:1978;
设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验:GB/T 5080.6-1996,IEC 60605-6:1989;
设备可靠性试验成功率的验证试验方案:GB/T 5080.5-1985,IEC 60605-5:1982;
设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布):GB/T 5080.4-1985,IEC 60605-4:1978。
可靠性试验第2部分:试验周期设计GB/T 5080.2-2012,IEC 60605-2:1994;
可靠性试验第1部分:试验条件和统计检验原理GB/T 5080.1-2012,IEC 60300-3-5:2001。
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